四探针电阻率测试仪
以实现精准测量。品牌与认证符合行业标选择通过国家或国际认证的仪器（如符合GB/T标
如需进一步了解具体型号参数或供应商信息，可参考原文链接或联系厂商获取技术文档。
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法
GB/T 11073 硅片径向电阻率变化的测量方法提要
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
探针（带有弹簧及外引线）之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω. 探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合 GB/T 552中的规定。
确认仪器是否支持选配模具或传感器（如压力、温度），以适应多样化测试需求。
下列文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB/T 1552 硅、储单晶电阻率测定 直排四探针法
选型建议明确测试需求 关键部件采用进口元件的仪器寿命更长。应用场景扩展用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，达到热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.-2004）。
测量特殊形状或尺寸的样品（如扁钢接地体），需搭配专用取样器（如半导电橡塑电阻仪取样
品牌资质与售后服务，避免后续使用问题。
探针与试样压力分为小于0.3 N及0.3 N~0.8N两种。电流输出：直流电流0～1000mA连续可调，由交流电源供电。误差：±0.2%读数±2字
干扰因素探什材料和形状及其和硅片表面接触是否满足点电流源注人条件会影响测试精度。
测量误差±5%
四探针电阻率测试仪
四端测试法是目前较之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
分类中，四探针法涉及到半导体材料、金属材料试验、绝缘流体、兽医学、复合增强材料、电工器件、无损检测、集成电路、微电子学、土质、土壤学、水质、电子显示器件、有色金属。
在中国标准分类中，四探针法涉及到半金属与半导体材料综合、金属物理性能试验方法、、、电工合金零件、特种陶瓷、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电阻器、半导体集成电路、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、水环境有物质分析方法、电工材料和通用零件综合、半金属、元素半导体材料、金属无损检验方法。
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
半导材料四探针测试仪（BEST-300C）
半导电材料电阻测试仪BEST-300C
特点：电阻精度：0.01%，小分辨率0.1uΩ；
方电阻精度：1%，小分辨率：0.1uΩ；
双电测原理，提精度和稳定性；
测试探头直排和矩形可选；
标配RS232、LAN、IO、通讯接；
可配戴软件查看和记录测试数据；
适用范围
使四探针治具测试状或块状半导体材料、属涂层以及导电薄膜等材料的阻和电阻率
使开尔测试夹直接测试电阻器直流电阻；
四端测试法是目前较之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求
四探针阻测试仪是运?四探针原理测量块电阻的专仪器，电阻率和电导率同时显。仪器
测试范围0-10MΩ，分辨率0.1uΩ，电阻精度0.01%，精度2%。可于测试半导体、属涂层导电薄膜等材料的阻和电阻率。
参数便于查看的显示/直观的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示；操作易学，直观使用；
基本设置操作简单，方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果；多种参数同时显示。
精度高：电阻基本准确度： 0.01％；
方阻基本准确度：1%；
电阻率基本准确度：1%
整机测量相对误差：≤±1%；整机测量标准不确定度：≤±1%
四位半显示读数；十量程自动或手动测试；
